二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #9225248 待售

J.A. WOOLLAM M-2000是一種先進的橢圓儀，用於測量透明薄膜的厚度。橢圓偏光計有兩個獨立的可變角度光譜偏光計（VASE）系統，每個系統都具有測量包括金屬、氧化物、半導體和聚合物在內的廣泛材料的能力。M-2000具有測量困難樣品的能力，包括單層、多層、階梯狀厚度層和折射率可變的層。它還可以測量折射率不同於背景的樣本，如高折射率對比樣本。J.A. WOOLLAM M-2000在薄膜厚度測量方面提供了卓越的精度和可重復性。它具有高性能的CCD陣列探測器，以及高度均勻的入射光偏振控制和快速的探測器讀出時間。入射角也可從5°到85°編程。M-2000配備了強大的分析軟件，提供廣泛的統計數據分析。軟件還存儲和管理來自無限數量測量的數據以及以前的結果,以便於比較。J.A. WOOLLAM M-2000通過其高分辨率橢圓偏振（HRE）設施,為測量和分析樣品的多層提供了更大的靈活性。它相當通用，能處理大部分研究和工業研發實驗室的應用。在測量過程中可以控制樣品溫度，並精確測量應變和應力。M-2000還配備了用於測量平板樣品的線性液晶模式,以節省更長的測量時間。J.A. WOOLLAM M-2000易於操作,需要最少的操作員培訓。它非常適合材料研究，包括薄膜表征和半導體、塗層和光學中的沈積過程研究。也廣泛應用於生物化學、半導體材料、薄膜合成等領域。