二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #9249787 待售
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已售出
ID: 9249787
優質的: 2010
Spectroscopic ellipsometer
With EC-400 controller
M-2000X Lamp controller, model DET-100
Unit source: FLS-300 75W Xe Arclight source
Detection unit: MQD Single
Stage: 8-1/2"
Automated mapping part
Spectral range: 245-1000nm
470 Wavelengths
Automated angle base
Focusing option
Spot size: 500um
Includes:
(2) Focusing probes
Additional stage
Computer
Monitor
Cable
Vacuum pump (Small)
Does not include NIR
2010 vintage.
J.A. WOOLLAM M-2000是一種通用的光學測量工具，用於測量各種材料上薄膜的厚度和光學參數。它的工作原理是用偏振光照射樣品，檢測產生的反射，並用精密的軟件分析結果，以確定樣品的光學特性。通過測量從樣品反射出的不同角度和波長的光強度之間的差異，M-2000可以精確地測量一層膜的厚度或塗層到原子水平。除了測量薄膜厚度外，J.A. WOOLLAM M-2000還可用於測量樣品的折射率、光學透射、吸收率、消光系數和吸收系數。M-2000是一種多參數光學工具,意味著它可以從同一樣本中測量多種特性,而無需復雜且耗時的後處理。它提供各種樣本架尺寸，可容納直徑從200毫米到直徑4.6毫米不等的樣本架。此外,它的自動校準功能便於設置,並確保測量的重復性。J.A. WOOLLAM M-2000配備了CCD攝像機，具有很高的光譜分辨率，能夠在近紅外和可見範圍內對樣品進行表征。它還具有溫度和外部振動控制功能,有助於最大程度地減少潛在誤差並確保可靠的結果。當由計算機直接或遠程控制時,M-2000還提供了更高的靈活性和擴展功能。總體而言，J.A. WOOLLAM M-2000是一種有效、可靠的薄膜和材料光學表征和測量解決方案。它使用先進的光學和軟件技術快速、方便地精確測量樣品的光學特性，使其成為各種行業的理想工具。
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