二手 J.A. WOOLLAM M-2000 #9257200 待售
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已售出
ID: 9257200
Ellipsometer
Fixed angle
Temperature: 1200°C
Materials: GaN, AIN and AIGaN
Doping species for materials:
Si for n type
Mg for p type
Includes:
ESM 300
M-2000X
DET-100
EC-400
EPM-224
EPM-222
DELL OptiPlex 7010
Effusion cells:
(2) Riber AI
E-Science AI
(2) E-Science Ga
(2) E-Science Mg
E-Science Si
(10) Shutters
(11) Power supplies.
J.A. WOOLLAM M-2000橢圓儀是一種利用偏振光測量被分析樣品材料厚度變化的裝置。測量是通過在測量所得反射光的旋轉之前先將特定頻率的光照射到樣品材料表面上來完成的。樣品被放置在封閉在特高壓室中的樣品盤的頂部，從而能夠在真空環境中精確測量測量。安裝在旋轉平臺上的樣盤，允許不同的入射角和偏振角用於不同的測量。M-2000光源為147.5 nm ArF*激光器，光束長度為2.0 cm，光束強度為10 nanoWatts/cm2。它配有CCD探測器，用於監測樣品極化和評估材料的雙折射。它還有激光線和激光幹涉儀，用來測量光束相對於樣品的偏振變化量。系統還有一個內部處理器,處理測量的數據並提供實時結果。它還可以存儲多達5000條曲線進行比較。此外，該系統還能夠進行長期數據采集和數據分析戰略，使用戶可以全面了解其影片隨時間的演變。J.A. Wooellam J.A. WOOLLAM M-2000是測量樣品材料厚度變化的有效工具，因為它能夠測量不同入射角的極化變化。此外,內部處理器允許數據分析和存儲曲線的能力,使其成為研究和質量控制的有用工具。此外，其測量雙折射的能力和真空環境使其成為專門應用的理想工具，例如在光學領域。
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