二手 J.A. WOOLLAM M-2000UI #9268961 待售

J.A. WOOLLAM M-2000UI是一種計算機化的橢圓偏光計，旨在測量材料的光學特性。它能夠高精度、高精度地測量薄膜材料的光學常數、厚度和折射率。M-2000UI具有強大的能力，使其成為材料研究和生產的寶貴工具。J.A. WOOLLAM M-2000UI能夠測量從0.2 nm到3 µm的薄膜厚度。它是通過增加一個成像系統，使更好的視覺表現的薄膜特性增強。測量是在使用各種光源的一系列材料上進行的，包括偏振光、非偏振光和單色光。用於操作M-2000UI的軟件設計為用戶友好，可用於快速可靠地生成測量結果。它還允許用戶通過多種方法來評估膠片屬性，包括多組分分析、橢圓偏差擬合和可給出一致結果的集成擬合列。J.A. WOOLLAM M-2000UI還包括一個先進的溫度控制功能，它將在0.01 °C的精確範圍內監測和調節溫度。此功能非常適合確保各種材料的結果一致,同時提供更高效的過程。M-2000UI還擁有主動振動控制系統，可以測量易受振動影響的樣品。利用此功能,J.A. WOOLLAM M-2000UI在測量移動中的材料時提供了出色的性能。M-2000UI是材料研究和生產的重要資產。利用其能力範圍，可以高精度、高精度地測量薄膜材料的光學常數、厚度和折射率。其用戶友好的軟件和溫度控制功能確保了一致的結果，而主動振動控制系統則保證了測量過程中的穩定性。