二手 J.A. WOOLLAM M-2000UI #9277548 待售

J.A. WOOLLAM M-2000UI是一種先進的橢圓偏光計，已經被開發用來精確地測量薄層的光學特性。M-2000UI提供了不同深度和角度的折射率、層厚、吸收系數和晶體取向的準確數據。這有助於識別材料的物理性質，如半導體、聚合物、塗層和薄膜。J.A. WOOLLAM M-2000UI由偏振裝置、一對衰減板、矽探測器和光學級組成。波長可以在253.6到700納米之間變化，這取決於所測量的材料。光被偏振，然後分裂成兩個平面偏振分量，成功地分析了層的光學性質。然後對數據進行記錄和分析,以確定有關樣品材料的信息。M-2000UI還有一個集成單元，包括反射儀、光學顯微鏡和調節照明水平的可調電源。這個綜合單元允許用戶使用各種測量技術，提供關於各種樣品光學特性的深入信息。J.A. WOOLLAM M-2000UI是一款可靠、用戶友好的機器,性能卓越。它易於使用,能夠快速、準確地處理數據。M-2000UI適用於各種應用,包括光散射和薄膜生長、光學表征、半導體診斷、多層光學塗層、光電器件、微波、移動電信、光學顯示器、化學傳感器表征和光學材料研究。為提高J.A. WOOLLAM M-2000UI的性能,可以實時進行數據和分析,也可以在離線模式下處理結果。嵌入式軟件還可以通過Web界面遠程訪問,允許用戶從任何位置訪問和管理其數據。此外，結果可以很容易地以與各種軟件包兼容的格式上傳。M-2000UI是橢圓偏振技術的頂峰，可以依靠它對所有類型的樣品進行精確的分析。該設備能夠快速分析和記錄各種材料的光學特性，使其成為許多行業的寶貴工具。