二手 J.A. WOOLLAM M-2000X #9231739 待售

J.A. WOOLLAM M-2000X是一種橢圓儀，用於測量材料中的光學特性。橢圓偏振法是一種無損技術，用於確定材料的厚度、折射率、消光系數和光學常數。這個橢圓偏光計測量單色光束在反射材料樣品時的偏振變化，以確定其光學特性。M-2000X擁有光學、機械和電子元件的行業領先組合。其光學模塊包含高性能的InGaAs光譜儀，配有超高精度的Wollaston棱鏡。這種棱鏡能夠測量偏振光從廣源角度到高數值孔徑。光線與樣品相互作用，然後通過計算機控制的機動定位系統定向到光譜儀。使用J.A. WOOLLAM M-2000X進行的測量是在無振動和無塵的環境中進行的，從而確保精確和可重復的結果。M-2000X的主要能力包括測量從紫外線到紅外區域範圍內樣品的光學常數，以及薄膜光學常數、薄膜厚度測量、應變梯度、逐層厚度和介電常數測量。J.A. WOOLLAM M-2000X還提供多種用戶友好的功能,包括自動測量吞吐量、直觀的Windows界面、強大的數據分析和繪圖功能,以及與各種樣本持有者的兼容性。此外，該儀器的設計還可以方便地集成到用戶控制、靈活性和準確性至關重要的生產線和研究過程中。M-2000X是一種創新和可靠的橢圓儀，具有卓越的性能，適用於廣泛的光學研究和測量需求。它提供了無與倫比的準確性和多功能性組合,使其成為各種應用程序的理想解決方案。