二手 J.A. WOOLLAM M-88STD #293649572 待售

J.A.Woollam J.A. WOOLLAM M-88STD是一種橢圓偏光計，其設計目的是為薄至10至20埃厚度的薄膜提供精確的無損厚度測量。該儀器非常適合測量薄膜的光學特性，用於薄膜氮化物塗層、防反射塗層、醫療器械醫療塗層等應用。M-88STD是利用光學幹涉、反射和折射原理測量薄膜材料光學特性的光譜顯微鏡。它由兩個調制激光光源（p偏振和s偏振），一個分析儀，樣品持有者，和光探測器組成。激光束穿過樣品，被顯微鏡物鏡聚焦成入射角。可以在舞臺上放置一個樣品來測量光學幹涉。橢圓偏振儀通過監測光通過界面時偏振的變化來測量薄膜的光學特性。光被分成一個p偏振光束和一個s偏振光束，光束的偏振可以用線性偏振器調節。S偏振光束從樣品反射到分析儀，p偏振光束繼續穿過樣品，然後進行調制。探測器探測到的光強度用於計算薄膜的光學特性。J.A. WOOLLAM M-88STD可以測量各種光學性質，如：光學厚度、折射率、消光系數、吸收系數、光學常數、精細度或對比度。該儀器的最大分辨率為1埃，大多數樣品的動態範圍為2至6十年。在大型液晶顯示屏上可以實時看到樣品的光學特性。該儀器還配備了一系列分析、數據處理和報告功能，例如：易於使用的軟件、多層建模、極化分析和結果的圖形顯示。M-88STD適用於半導體薄膜沈積、微電子封裝、塗層應用、化學氣相沈積、薄膜光學塑料塗層、薄膜功能防曬霜、薄膜傳感裝置等應用。J.A.Woollam J.A. WOOLLAM M-88STD是一種可靠和準確的儀器，適用於廣泛的研究、開發和工業應用。