二手 J.A. WOOLLAM RC2 #293627109 待售

J.A. WOOLLAM RC2
製造商
J.A. WOOLLAM
模型
RC2
ID: 293627109
Spectroscopic ellipsometer.
J.A. WOOLLAM RC2是一種先進的橢圓儀,旨在測量薄膜結構和材料性能。它是為提供精確精確的厚度、光學常數和折射率測量結果而建造的高端激光基設備。RC2設計為將光頭、激光、數據采集系統、入射角控制裝置和測角儀合並為一個單元的單個單元。這允許測量多個角度的樣本,包括在單個序列中最多六個從70度到84度的入射角。J.A. WOOLLAM RC2的光學頭利用鏡子和透鏡的機器將激光束聚焦到樣品上。激光工具包含一個二極管泵浦的固態激光器,能夠為不同的實驗產生多種波長。測角儀用於相對於激光旋轉樣品,以確保測量是可重復和準確的。RC2還具有先進的角度測量和數據采集資產,可同時獲取高達四個入射角的樣本反射參數,分辨率為0.1度。這允許對薄膜結構和材料特性進行可重復和準確的測量。J.A. WOOLLAM RC2提供了厚度和光學常數測量的精確度和精確度,並能夠同時測量不同波長和不同入射角。這使得它成為各種薄膜結構和材料性能測量的絕佳選擇。它能夠測量從高反射性氧化物到透明半導體材料的各種材料,這使其成為研究和開發的寶貴工具。
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