二手 J.A. WOOLLAM VASE #293624629 待售

J.A. WOOLLAM VASE是由橢圓偏振學行業領先的Woollam公司設計制造的。獲得專利的VASE是一種精密光學工具，設計用於測量各種基板上薄膜的厚度和光學常數。J.A. WOOLLAM VASE的入射角範圍為4至70度,精度為0.2度,其測量精度無與倫比。其獨特的設計包括一個可移動的帶有空氣軸承的下部單元和允許測量多層薄膜的薄膜樣品安裝架，只有一個設置。光學頭包括一個特別設計的光學包絡，以減少空氣反射誤差，最大限度地減少入射光和散射光之間的光路變化，以提高精度。設備隨附的軟件提供直觀的功能，能夠進行完整的特征分析和快速的數據收集。VASE在薄膜厚度和光學特性測量方面提供了無與倫比的精度。其先進的軟件允許進行全面的分析和快速的數據收集，使研究人員能夠對薄膜樣品進行快速的一致性測試。該系統采用4到70度的低真空入射角，可調節，精度為0.2度。這使用戶能夠高精度地測量薄膜。改進的光學包絡還可以減少空氣反射誤差,並最大程度地減少光路偏差,從而獲得更準確的結果。J.A. WOOLLAM VASE內置的先進探測系統進一步幫助了該裝置。其中包括Peltier溫度控制器、Autophobic Flatten補償軟件和自動調制補償功能。利用這些系統，用戶可以快速準確地測量不同光學常數的薄膜和微粗糙度的薄膜。這保證了精確精確的測量和改進的薄膜特性,尤其是與機器的高級軟件配合使用時。VASE是一種用途廣泛且先進的橢圓偏光計,在薄膜測量中提供前所未有的精度。它對材料科學、光伏、電子和半導體市場的研究人員和科學家特別有益，也對波長相關光學材料的測定有用。這種創新的工具可以用來測量薄膜的厚度和各種基板的光學常數，具有簡單無與倫比的準確性和可重復性。