二手 J.A. WOOLLAM VASE #9224810 待售
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ID: 9224810
Ellipsometer
Spectral range: Up to 193 to 3200 nm
Reflection
Transmission ellipsometry
Flexible measurement capability:
Variable wavelength
Angle of incidence.
J.A. WOOLLAM VASE是一種橢圓偏光計,用於測量材料的光學特性。該設備為用戶提供精確的光學信息,如薄膜厚度、折射率和薄膜消光系數以及底層材料的光學特性。VASE是測定平坦光學表面薄膜性能的理想選擇。它可以用於從矽片到金屬、玻璃、塑料和塗料的應用。Woollam J.A. WOOLLAM VASE由工業級光譜橢圓儀、準直光學、激光二極管光源、電子、計算機化用戶界面和旋轉級組成。該裝置能夠通過使用不同的檢測模式進行各種橢圓偏振和反射偏振測量。它包括單波長、多波長、多角度和溫度相關的測量。激光二極管光源用於照射要測量的樣品,並由準直光學器件引導到偏振光束器。光束分離器將光分成兩個正交偏振分量,然後發送到兩個獨立的檢測器臂。檢測器測量反射光的偏振,使用旋轉級以增量旋轉樣品來執行測量。兩個探測器收集的數據用於計算材料的復雜反射率和透射率。然後通過計算機化的用戶界面處理這些數據,以確定樣品材料的折射率、厚度和光學常數。結果以數字和圖形格式顯示在界面上,並提供診斷信息以供進一步分析。VASE是材料光學分析的絕佳設備,具有廣泛的測量模式和精度。該裝置非常適合薄膜表征、沈積和腐蝕研究等應用。它也可用於表面粗糙度、附著力和光散射測量等其他應用。
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