二手 PHILLIPS SD-3400 #9221001 待售

PHILLIPS SD-3400橢圓儀是一種自動化的單樣光譜儀，設計用於測量薄膜層的光學特性，如厚度、折射率和其他光學參數。SD-3400 Ellipsometer具有高度自動化的操作，具有用戶直觀的圖形界面，允許用戶快速輸入參數，測量不同角度和波長的多個樣本，同時生成多達4條曲線。該儀器利用順序偏振光源和探測器精確測量樣品散射光的角度和強度。它還有一個集成的CCD相機，可以用於圖像捕捉和顯示。檢測器模塊位於測量室中，以提供高精度。PHILLIPS SD-3400橢圓儀還可用於廣泛的研究和工業應用，包括薄膜沈積和表征、保護性塗層、光伏電池性能測試、解剖層沈積表征、半導體晶片器件表征和光學元件分析。它能夠測量厚度、光學常數（折射率、吸收系數、消光系數、吸收截面等）、絕對層厚度的測定、納米結構的光學性質以及橢圓偏振參數。該系統采用雙光束配置,具有入射和散射光束的特點。這種設計提高了光學器件的精度和準確性，特別是與內置旋轉分析儀結合使用時。SD-3400橢圓偏光計還可以與各種激光源集成在一起，大大擴展了其應用範圍。它還有一個閉環溫度控制系統，這是研究樣品的溫度相關光學特性所必需的。PHILLIPS SD-3400橢圓儀是有機和無機薄膜材料表征的有效工具。該儀器具有易於使用的圖形界面，能夠快速測量和分析樣品的光學特性，成為業界首選。它非常適合光學元件、保護塗層、光伏電池和半導體的研究和表征。