二手 PLASMOS SD 2000 #9010339 待售

製造商
PLASMOS
模型
SD 2000
ID: 9010339
晶圓大小: 8"
優質的: 1994
Thin film thickness measurement system / automatic ellipsometer, 8" Illumination source type: HeNe laser Scanning stage: yes CPU: Vero EMV0PCIP21 8S Controller type: PC/VME Software Rev.: 6.28F External cooling: air cooled Autofocus system: Electrophysics AF-759 microscope Objective: Leitz Plan 10x/.2 CCD camera: Teli CS-8310b (2) PMS ports (1) PPZ2 port (1) PTV portPower: 230V, 50/60Hz 1994 vintage.
PLASMOS SD 2000是一種自動化的計算機控制橢圓偏光計,用於測量薄膜材料。它是一種先進的光學儀器,利用光來測量薄膜和薄膜元件的光學性質。橢圓偏振儀利用偏振光測量樣品的光學特性。光線投射到樣品上,部分光線從樣品表面反射出來。分析反射光,測量光的偏振狀態。由此可以得到材料厚度、光學常數以及樣品其他光學性質的信息。SD 2000具有350-1700納米的寬廣的工作範圍,最大分辨率為0.01度,因此適用於精度非常高的薄膜材料。橢圓偏振儀在薄膜厚度上的可變性範圍為0.2至10納米,堆積密度為10%,對於研究非常薄的層很有用。PLASMOS SD 2000還提供高級編程功能,如調整樣品角度和樣品極化。軟件包括範圍廣泛的標準薄膜模型,可以選擇這些模型來計算樣品的光學特性。設備的整個操作是自動化的,由PC電腦控制,這使得操作員在執行測量時具有很大的靈活性。用戶可以控制偏振角、功率、波長等多種參數。SD 2000非常適合在各種應用中測試薄膜材料的橫向均勻性、光學常數、吸收、延遲和厚度,例如光學塗層、透明導體、表層、光學等。由於其先進的特性和功能,PLASMOS SD 2000為執行可靠的測量提供了極大的便利和準確性。
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