二手 RUDOLPH AUTO EL II #293609047 待售

RUDOLPH AUTO EL II是RUDOLPH Technologies, Inc.的自動橢圓偏光計，可以測量薄膜厚度、光學常數和薄膜應力。該設備基於偏振光橢圓偏振（PLE）原理。它是一種無損光學技術，可以在半導體、金屬、玻璃和聚合物等多樣的基板上測量非常薄的薄膜，厚度在10到1000 nm之間。AUTO EL II利用偏振光源和旋轉偏振器產生一束最初呈線性偏振的光束。然後,光線從樣品表面反射或通過樣品表面傳輸,並由檢測器進行檢測。探測器測量光束反射或通過樣品表面後的偏振狀態和強度。將反射光束的強度和偏振狀態與入射光束的強度和偏振狀態進行比較，推導出橢圓偏振參數ψ和δ。與入射光相比，樣品表面上存在薄膜會影響反射光的強度和偏振狀態。此信息可用於計算樣品的折射率、厚度和光學常數。RUDOLPH AUTO EL II優於其他橢圓偏振測量設備的優點包括由於頻率更高的LED光源而提高了精度，由於自動化的偏振儀和易於操作的創新用戶界面而使測量時間更快。橢圓表與基於RUDOLPH Windows的交互式軟件兼容,該軟件可實現數據記錄、繪圖、導出和存儲。這一設備在半導體、光電、納米技術、生命科學、光學計量和研究實驗室等多個行業廣泛用於工業、學術和研究用途。它也被用於薄膜、塗層和光學元件的生產和制造。總體而言，AUTO EL II是一種先進的橢圓偏光計，在各種應用中提供可靠和準確的光學材料表征。利用高精度性能，最大限度地提高了測量速度和精度。簡而言之，它是薄膜表征的解決方案。