二手 RUDOLPH EL III #9131119 待售

RUDOLPH EL III是用於光學薄膜測量的最先進的橢圓偏光計。用於光學薄膜層的測量和分析，如在生產先進半導體器件、光學顯示器和其他光電元件時發現的。橢圓偏振法利用精密光源和光電探測器測量光與薄膜相互作用後偏振的變化。EL III將高端偏振反射儀的先進測量能力與橢圓偏振儀強大的控制和分析軟件相結合，為研究人員和工程師提供無與倫比的精度和精確度。RUDOLPH EL III具有先進的自動化測量系統，可以精確調整源光的波長和偏振角，以實現薄膜的最佳采樣。這個功能強大的系統還提供了一個校準模塊，以有效地消除儀器漂移並確保各種樣品的準確性。EL III還提供一系列環境掃描功能,包括溫度和濕度控制,使其非常適合獨立測量。除了出色的測量能力外，RUDOLPH EL III還提供多種強大的分析選項。其最新的Windows兼容軟件通過對收集到的數據應用一系列復雜算法來解釋樣本數據，從而生成多種有用參數，如光學常數、折射率、吸收系數和薄膜厚度等。此外,數據可以直接以文本或圖形格式輸出,以便與橢圓偏振標準委員會（ESC）標準進行比較。最後，EL III的設計考慮了用戶，使得薄膜測量盡可能的容易。直觀的圖形用戶界面使RUDOLPH EL III的設置和操作成為輕而易舉，而一系列有用的向導和教程確保即使是新用戶也能快速了解儀器的操作。EL III還附帶了一系列有用的配件，如半自動樣品級和參考樣品架，使光學薄膜測量和分析更加輕松和成功。