二手 RUDOLPH FE III #293752178 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
RUDOLPH FE III是由RUDOLPH Research Analytical設計制造的橢圓偏光計，用於薄膜材料的表征。它通過測量偏振光的反射和透射來工作。該裝置裝有偏振器、減相器、探測器頭和測角儀，每一個都有助於確定薄膜的厚度和光學特性，如折射率、消光系數和光學常數。RUDOLPH FEIII被設計用來測量超蛋白（只有1-2 nm厚）膜，包括聚合物、半導體納米結構、金屬和電介質。它還有一個可選的紫外線附件，允許在UV範圍內表征超薄膜。該單元由計算機控制，具有用戶友好的界面和數據分析軟件，便於操作。FE-III具有照亮樣品的橢圓偏振白光源和測量樣品反射或透射光的3軸測角儀。該單元裝有一個旋轉偏振器，該偏振器從不同角度選擇反射光並將其發送到檢測器，檢測器測量光的強度及其偏振狀態。探測器頭由一個孔徑輪、一個旋轉相位減速器和一個分析儀輪組成。它們一起測量了薄膜的折射率、消光系數和吸收系數等光學常數。該單元還具有一個自動化的樣本更改器選項,該選項允許在一次運行中對多個樣本進行表征。此功能可確保保持較高的準確度；由於所涉及的厚度較小，樣品定位的微小變化會影響測量。用戶友好的界面和數據分析軟件允許用戶輕松收集和分析測量結果。RUDOLPH FE-III是對極薄薄膜材料進行精確表征的行業標準，使其成為大學和研究機構的理想選擇。簡單的操作、可靠的結果和高精度使這種橢圓偏光計成為薄膜表征的絕佳選擇。
還沒有評論