二手 RUDOLPH FE III #9139660 待售

RUDOLP RUDOLPH FE III是一種先進的光譜橢圓儀，用於測量材料的厚度、組成和光學性質。它主要用於測量基板和表面薄膜的光學特性，甚至可以檢測到最小厚度到納米範圍內的薄膜。RUDOLPFE III由各種可互換接收模塊組成，在從紫外線到紅外區域的廣泛波長範圍內工作。它由一個簡單易用的圖形用戶界面操作，清晰準確地顯示和記錄數據。該裝置結構堅固，性能可靠，采用計算機控制的光學系統，利用旋轉補償器測量樣品反射的偏振。它能夠連續掃描模式操作來了解樣本的平面內參數和平面外參數。RUDOLPH FEIII配備了一系列專門的軟件工具，旨在進一步提高其準確性和性能。該軟件為儀器的配置、參數掃描的設置和測量數據的解釋提供了一個直觀的界面。也可用於計算層狀樣品的光學常數和光學性質。FE-III附有一個獨特的附件套件，其中包括一個用於絕對測量的高端參考單元、偏振光學元件、4元長通濾波器和一個光譜儀模塊。這些附件進一步提高了設備的準確性和性能。此外，該儀器還配備了一個集成的電動旋轉器以及一系列用於廣角橢圓偏振的光學元件。該系統允許使用高度可靠的測量和極其廣泛的分析能力。綜上所述，RUDOLP FEIII是一種最先進的光譜橢圓儀，它提供快速、精確和可靠的測量數據，甚至可以探測到最小厚度到納米範圍內的層。靈活的設計和準確的軟件功能使該儀器非常適合不同行業的許多應用。