二手 RUDOLPH FE III #9165605 待售

RUDOLPH FE III
製造商
RUDOLPH
模型
FE III
ID: 9165605
晶圓大小: 6"
優質的: 1994
Wafer thickness measurement system, 6" 1994 vintage.
RUDOLPH FE III是最先進、用途最廣泛的橢圓偏光計之一。本裝置的測量是用光譜橢圓偏振法或可變角度光譜橢圓偏振法(VASE)完成的。RUDOLPH FEIII提供了快速、簡便的自動光譜橢圓偏振,並且在編程掃描參數方面具有充分的靈活性。它測量在中紅外,近紅外和可見範圍的光。該裝置適用於監測薄膜塗層和控制材料的化學成分。該裝置內置厚度、光學和化學成分計算器。強大的擺臂設計包括電氣臂上的樣品和檢測器,該檢測器跨越狹窄的接收角度擺動。FE-III是一種熱電冷卻探測器,提供超過1000個單位的動態範圍。FE III在諸如角度覆蓋範圍、角度分辨率、波長範圍、基線以及諸如厚度、折射率和/或消光系數等樣品特性等掃描參數方面提供了充分的靈活性。該裝置可以在不同的波長、角度和偏振態下作為入射光強度的函數進行測量。FEIII被設計成以不同的實驗室配置運行。它可以與各種應用和其他設備連接。這允許橢圓偏振儀與其他儀器集成操作進行高級實驗。它也可以通過互聯網從世界任何地方遠程操作。RUDOLPH FE-III具有長期的數據存儲容量,與各種軟件程序兼容。這些程序允許用戶導出數據以立即進行分析和優化。數據管理系統可以定制,以滿足用戶的特定需求。RUDOLPH FE III的高性能測量歸功於其尖端的光學系統和優異的光源。它配備了優化的焦距鏡頭和高穩定性、寬波長範圍的出色光源。RUDOLPH FEIII是一種可靠且易於使用的橢圓儀,可用於對多種材料進行高精度和精確的測量。它為過程控制以及研究應用提供可靠的數據。此外,它還得到制造商的全面保修和客戶服務的支持,確保了長期的滿意度。
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