二手 RUDOLPH FE III #9165607 待售

RUDOLPH FE III
製造商
RUDOLPH
模型
FE III
ID: 9165607
晶圓大小: 6"
優質的: 2007
Wafer thickness measurement system, 6" 2007 vintage.
RUDOLPH FE III是一種研究級光譜橢圓儀,旨在以極高的精度測量材料的光學特性。該工具被用於廣泛的實驗,包括反射和透射塗層測量、半導體器件結構、光學材料表征等等。RUDOLPH FEIII裝有Peltier冷卻CCD成像照相機,並使用Ellipsometry原理來提供反沖、漂移和滯後可忽略的表面光學特性的測量。FE-III也提供了優越的動態範圍和精確度比同級別的其他橢圓偏光計。FE III具有256通道波長範圍(200-1200nm),分辨率高達5nm,允許用戶精確測量材料的光學特性。該系統設有用於樣品定位的計算機化樣本表和用於對準測量的電動偏振儀。RUDOLPH FE-III具有其集成的移動軟件包,允許用戶將橢圓偏光計連接到PC或網絡就緒PC。FEIII的偏振儀測量範圍很廣,可達+/-180°,多個樣品位置的測量範圍也很大。該系統還包括一個允許外部自動控制參數和高級測量的軟件組件。這也允許交叉偏振、發散補償、光彈性和多角度測量。RUDOLPH FE III是一種高度精確可靠的工具。閉環校準確保整個測量過程的準確性和穩定性,允許精確和可重現的測量。該系統還具有出色的穩定性和較低的噪聲水平,允許用戶測量光學特性變化最小的情況。RUDOLPH FEIII是光學材料表征的優越儀器,結合了標準橢圓儀的人體工程學特征和先進橢圓儀的技術精密。其卓越的性能、用戶友好的功能和先進的軟件功能使其成為用於光學表征和研究的可靠而強大的工具。
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