二手 RUDOLPH FE IIID #293604305 待售
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RUDOLPH FE IIID橢圓偏振儀是一種高度先進的光學計量裝置，利用偏振和橢圓偏振的原理來測量表面的光學性質。它測量薄膜的厚度和表面參數，並就各種基板上薄膜的物理特性提供反饋。RUDOLPH FE-IIID橢圓偏光計設計具有多種特性和功能，是要求苛刻的光學測量的理想選擇。FE III D Ellipsometer使用固定和可變角度的幾何形狀，提供精確的測量和薄膜特性的可靠表征。這種最先進的技術允許在線和實驗室測量,從而無需手動更改入射角。它的可變角度範圍為30-85°，可以測量同一樣品上具有可變入射角的薄膜。此外，FE IIID橢圓偏振儀擁有高度靈敏的極化探測器。這種獨特的特征允許獲取角度相關的橢圓偏振參數（即振幅、相位）。該探測器還具有較高的波長分辨率和檢測精度，非常適合薄膜和表面性能的測量。FE-IIID Ellipsometer附帶了SEAR軟件,可提供簡單的用戶體驗。SEAR是一個用戶友好的界面，包括了一整套的分析功能，如層建模（在基板頂部對薄膜進行建模）、堆棧建模（對復雜的薄膜堆棧進行建模）以及對測量參數進行圖形繪制。該軟件是一個直觀的平臺,允許輕松進行測量設置,並提供全面的數據分析功能。RUDOLPH FE III D橢圓偏振儀還具有為高級橢圓偏振應用設計的幾種硬件功能。它配備了一個遙控電機，便於補償高速液晶（HSLC）探測器的旋轉。這使得角度相關測量提供有關樣本角度相關的信息成為可能。此外，該裝置還配備了機械化樣品臺，方便樣品定位。它還帶有簡化的樣本轉換,以進一步加快樣本更改。RUDOLPH FE III/D橢圓儀是精密光學計量的絕佳選擇。其強大的特性使其成為涉及薄膜表征和光學特性測量的應用的理想設備。FE III/D橢圓偏光計具有用戶友好的SEAR軟件、先進的技術及其多種功能,可對薄膜和表面進行可靠、準確的測量和表征。
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