二手 RUDOLPH FE IIID #293660842 待售

RUDOLPH FE IIID是一種先進的橢圓形光譜儀，用於測量光學參數如折射率和薄膜和界面的厚度。該儀器是一個自動、易於操作、堅固的平臺，允許用戶測量半導體、電介質、聚合物和組合膜等多種材料。RUDOLPH FE-IIID系統結合了一個強大的1.5毫瓦HeNe激光器、精密的軟件控制和反饋以及一個倒光頭，可以分析無限制高度的樣品。該系統由一個倒光頭組成，它不僅能夠無限制的高度樣本，還允許橢圓偏差測量到幾納米的厚度。光頭具有電動偏振器、補償器和樣品軸,允許從-90°到+90°的精確旋轉調整。還提供了一種CCD探測器設計，它提供了從250 nm到950nm的快速數據采集時間和均勻的光譜響應。在632.8nm下工作的HeNe激光器穩定性強，具有良好的光束模式濾波。這種穩定性允許在各種角度上進行更精確的測量。激光還允許進行高反射測量，使其適合用於反射光譜和其他技術，如Mueller矩陣應用。FEIIID包括一個可調光源，使得它適用於薄膜表征偏振器介電常數和反射/透射光譜。光譜可以用偏振光光譜法得到，光譜可以與樣品的光譜進行比較。此外,RUDOLPH FE III/D還可以測量幹涉顏色、透射/反射系數以及樣品的方位角和極性方差。直觀的軟件為易於使用而設計，允許用戶輸入樣本名稱、厚度和折射率等相關數據。它還提供數據分析和各種建模功能。用戶可以以多種格式導出數據,以便進一步分析或與同事共享。FE III/D是一款可靠、功能強大的光譜儀，具有靈活的光頭設計、可調光源、HeNe激光穩定性以及強大的軟件控制功能。這使得FE IIID成為橢圓偏振儀應用程序的理想選擇,這些應用程序需要高精度的數據和對各種材料的快速測量。