二手 RUDOLPH FE IIID #9139658 待售

RUDOLPH FE IIID是一種用於測量薄膜物理厚度和光學特性的橢圓偏振儀。它的工作原理是在樣品上照射偏振光，然後測量產生的強度和偏振變化。所得數據可用於確定薄膜材料的厚度和光學常數（折射率和吸收系數）。RUDOLPH FE-IIID利用CCD照相機，其七個高靈敏度的濾光帶範圍從350到2800納米，以精確測量和分析樣品表面。通過將CCD照相機測得的角度信息與可見氦硼激光器提供的強度數據相結合，FE III D可以在相距不超過半毫米的幾個點獲得測量結果。FE-IIID除了是內部研究的有用工具外，還能夠獲得可靠的數據，用於質量控制。例如，半導體制造商為了產品控制的目的，往往需要測量薄膜的精確厚度。在測量薄膜沈積及其相關光學常數時，FE III/D生成的數據非常可靠。由於其極高的精度和耐用性，RUDOLPH FE III D成為需要快速、準確、可靠的薄膜材料測量的實驗室和生產設施的頻繁選擇。由於其先進的數據采集和分析系統，RUDOLPH FE III/D能夠向研究人員提供他們所需的確切結果。FE IIID是一種靈活、易用、可靠的薄膜樣品精確測量系統。它具有很高的準確性和可重復性，是獲得與薄膜材料相關的綜合信息的理想工具。這些信息對於質量控制和研究是非常寶貴的。