二手 RUDOLPH FE IIID #9296247 待售

RUDOLPH FE IIID
製造商
RUDOLPH
模型
FE IIID
ID: 9296247
Wafer thickness measurement system.
RUDOLPH FE IIID是一種先進的光譜橢圓儀,設計用於測量薄膜和對材料進行自動表征。它的工作原理是橢圓偏振,其中光被用來確定材料的物理性質,最常見的是厚度和折射率。RUDOLPH FE-IIID配備了HeNe激光器,能夠輸送波長為633nm的光,並且可以測量範圍廣泛的厚度,從幾納米到幾百納米。橢圓偏光計由光學元件組成,如偏振器、光束夾板和補償器,利用來自激光源的偏振光來精確測量薄膜或塗層的光學性質。儀器由幾個部分組成,包括樣本級、橢圓偏振儀頭和控制部分。樣品臺用來固定和定位薄膜,而橢圓偏振儀頭則由一系列光學器件和配件組成,精確測量薄膜特性。控制部分容納電源和通信板,允許用戶控制設置和調整儀器參數。FE III D提供了一系列強大的功能,使其能夠以高精度和精確度測量元件和材料。它具有高度敏感的光學元件,以及廣泛的測量範圍,可實現材料的自動表征。儀器配備了遙控功能,允許用戶在無需接觸儀器的情況下調整設置和修改參數。此外,該單位可以同時測量樣品的兩側,從而提供一組測量結果。使用FE-IIID進行的所有測量都被認為是非常準確和可靠的,使其成為尋找精確、可重復結果的實驗室的理想選擇。設備中包含功能強大的軟件,可輕松進行數據分析和存儲。該儀器還與大多數顯微鏡系統兼容,非常適合檢查和表征極薄的薄膜和小結構。最後,FE III/D是一種先進的光譜橢圓偏光計,能夠對薄膜和塗層進行精確可靠的測量。配備了一系列功能強大的功能、自動化的表征和遙控器,這種儀器非常適合尋找高度精確的科學測量的實驗室。
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