二手 RUDOLPH FE IV D #9375034 待售

製造商
RUDOLPH
模型
FE IV D
ID: 9375034
優質的: 1994
Ellipsometer, parts machine Option: Auto loading 1994 vintage.
RUDOLPH FE IV D是由RUDOLPH Research Analytical為廣泛的生產和研究應用而設計的橢圓偏振儀。RUDOLPH FE IVD是一種多波長的映射橢圓儀,能夠在樣品的整個表面上以非接觸式、無破壞性的方式收集完整的Jones矩陣數據。該設備對於UV-Vis-NIR光譜應用高度可配置,使用戶能夠快速輕松地測量光學常數、薄膜厚度、折射率和其他薄膜特性。FE-IVD基於旋轉補償器技術,利用獨特的樣品掃描元件控制掃描角度和光學附件。此控制允許快速分析不同的樣本類型,同時在收集數據時保持最大精度。光推車配備了幾種可互換的極化器和補償器,大大擴展了測量能力和可以分析的入射角範圍。高精度數字編碼器監控行進的角度距離,使系統能夠在像素之間快速傳輸數據。FE IV D設計用於常規生產控制和調查研究。該單元的集成軟件直觀易用,允許用戶快速為各種應用設置實驗。此外,RUDOLPH FE-IVD還配備了簡化數據分析的圖形用戶界面(GUI)。這種可視界面允許直接編輯參數和數據視圖,允許用戶快速診斷數據並專註於相關結果。此外,FE IVD集成了一個全面的先前測量庫,以便於比較和診斷。RUDOLPH FE IV D由於其可重復可靠的性能,是在生產線上建立過程控制的絕佳選擇。其光學組件堅固,具有多達12個alpha點的自動掃描功能。此外,RUDOLPH FE IVD支持各種環境感測和控制,以確保實現可重復的測量條件。FE-IVD是一種真正通用的機器,適用於各種基材。FE IV D憑借其出色的性能、多方面的設計以及簡單而強大的軟件界面,是生產環境以及研究應用的理想橢圓儀。RUDOLPH FE-IVD的設計允許用戶以非接觸、無破壞的方式快速準確地測量各種樣品類型的光學常數、薄膜厚度和折射率。
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