二手 RUDOLPH FE IV #9083743 待售

RUDOLPH FE IV是一種先進的橢圓偏振儀，設計用於通過高精度的光學幹涉來測量薄膜特性。橢圓偏振儀采用4波長單色照明和非接觸測量方法，可精確測量金屬、氧化物、聚合物薄膜和納米材料等多種材料。此外,該設備能夠測量1-1000 nm範圍內的薄膜,精度為0.01°。RUDOLPH FE-IV利用低真空室減少空氣湍流，確保對表面薄膜進行高度精確的測量。橢圓偏振儀的精度通過其高階延遲測量能力得到進一步提高，從而可以對較薄的薄膜進行更精確的測量。該裝置配有兩個偏振激光器和一個白光源，具有在近紅外、可見和紫外線區域測量高達70°的入射角，分辨率為0.001°的能力。FE IV還具有較大的樣本量能力,允許它測量最多3厘米²的樣本區和多種樣本形,如2D和3D曲面。此外,該設備還可以收集有關塗層厚度、折射率、光學各向異性和薄膜雙折射的數據,從而使用戶能夠分析復雜的光學表面和薄膜系統。FE-IV具有強大的軟件和硬件功能,可以滿足廣泛的研究需求。例如，它具有跨平臺兼容性的遙控器，使用戶能夠運行來自多個平臺的測量，如PC、Mac和平板電腦。此外，橢圓儀直觀易用的軟件為用戶提供各種數據分析和可視化工具。總體而言，RUDOLPH FE IV是一種技術先進的橢圓偏振儀，可對各種材料中的薄膜特性進行高度精確和可靠的測量。它易於使用的軟件和廣泛的功能使其成為各種研究應用程序的寶貴工具。