二手 RUDOLPH FE IV #9161279 待售

RUDOLPH FE IV是一種先進的橢圓偏光計，用於測量薄膜厚度。它通過利用從膠片反射出來的光在通過不同厚度的介質時改變偏振這一事實來運作。在RUDOLPH FE-IV橢圓偏振儀中，光源通過偏振器發射光束，並向樣品發射光束。光線再反射回第二偏振器，用來測量它經過的薄膜所造成的偏振效應。通過這些信息和從一系列探測器獲得的數據的組合，可以精確地測量薄膜的厚度。FE IV是RUDOLPH Technologies最新推出的產品,是最先進、最精確的橢圓偏光計之一。其專有的Polarized SmartIps技術能夠檢測和糾正可能發生的任何錯誤,從而確保無與倫比的測量精度。它可以測量厚度高達8納米的薄膜，以及高達4000納米的薄膜。FE-IV利用彩色圖形用戶界面（GUI）,它能夠準確顯示實驗室質量圖,幫助提供易於解釋的詳細結果。與其他橢圓偏振儀相比，RUDOLPH FE IV因其純粹的精確度而脫穎而出。其先進的極化SmartIps技術能夠檢測納米級的誤差，確保測量非常精確。此外，它人性化的GUI使得它易於控制和利用機器，這樣即使是新手用戶也能獲得準確的測量。RUDOLPH FE-IV也極為通用，可以用於一系列不同的實驗。它獨特的設計使它可以測量任何薄膜的厚度，這意味著它可以在多種應用中使用，無論是在光學研究中，還是在醫學診斷的發展中。總體而言，FE IV是當今市場上最先進的橢圓偏光計之一。它能夠對納米厚膜進行極其精確的測量，其用戶友好的GUI確保它可以被任何用戶使用，無論他們的經驗如何。而且，它用途極為廣泛，可以跨多種實驗使用，使其成為一系列應用的絕佳選擇。