二手 RUDOLPH FE IV #9271610 待售

RUDOLPH FE IV是由RUDOLPH Technologies, Inc.它是一種強大的分析工具，旨在測量薄膜和小顆粒等材料的光學特性。該儀器配備了一系列復雜的功能，包括一個獨特的大面積用於高速測量的樣品室和一個定制設計的計算機控制驅動設備，能夠快速掃描樣品。儀器由波長範圍為350至1650 nm的光學系統、采樣級和高速計算機控制的驅動單元組成。一束光束，典型的是來自氙光源，被並入光學機器，並被引導到樣品級，在那裏它被轉化成入射波和偏振反射波。然後用CCD相機檢測反射波，測量偏振角。檢測工具將檢測到的信息轉換為強度和相位圖，用於計算Mueller矩陣的元素。此矩陣以2x2或4x4格式生成，取決於橢圓偏光計的模型，用於計算樣品的光學參數。然後可以使用RUDOLPH EllipsWerks軟件等專用軟件包查看獲取的數據進行分析和進一步操作。使用RUDOLPH FE-IV橢圓儀，用戶可以精確測量光散射對材料的影響，如總反射率、消光系數、光吸收、折射率、塗層厚度、光學各向異性等。大取樣室還可以快速測量薄膜地形和應力。此外，該儀器可用於測量金屬點等不透明樣品的性質，使其適合於多種行業的一系列研究應用。此外，該儀器的特點是操作簡單，用戶參與程度極低，使用戶能夠在進行最少培訓的情況下快速準確地測量各種樣品。FE IV橢圓儀的高精度、易用性和多種功能使其成為研究和制造環境的強大工具。