二手 RUDOLPH FE IV #9398259 待售

RUDOLPH FE IV是一種光學橢圓儀，用於精確測量薄材料的光學特性。該裝置是一種4波長的儀器，可以用偏振光測定塗層光學參數。它可以測量範圍很廣的入射角，從10°到70°，適用於近乎正常和離面入射角的測量。RUDOLPH FE-IV利用幹涉濾波器輪、多個光電探測器和線性偏振器測量精確的偏振參數。它的設計比之前的FE III橢圓偏光計模型有所改進，因為使用了四個波長的激光（633nm、515nm、488nm和478nm）從多個角度測量樣品。然後使用這些測量來計算樣品的光學常數。該儀器采用基於Windows的AE Win-EV軟件，設計為臺式，輸出數據易於分析。軟件具有強大的曲線擬合工具,可幫助用戶從數據中提取材料常量。儀器還包括一個集成的樣品板，允許樣品與梁軸路徑簡單對齊。此外，直觀的用戶界面和圖形顯示使FE IV成為光學塗層測量的理想選擇。該系統的設計也考慮到了魯棒性，提供了簡單的維護和長期的耐用性。先進的設計有助於確保在廣泛的基板和極角上進行精確的測量。總體而言，FE-IV是一種用途廣泛的橢圓偏光計，是為研究人員設計的，目的是尋找一個可靠和準確的系統來測量薄膜和表面的光學常數。它提供了研究一級調查所需的精確度，適合在實驗室環境中使用。