二手 RUDOLPH FE VII D #9171333 待售

RUDOLPF RUDOLPH FE VII D是一種橢圓偏振儀，設計用於對薄膜厚度和折射率進行高度精確的測量。它是一種用於光學和薄膜測量的快速可靠的光學工具。它采用雙光束光學幹涉儀和線性偏振器來測量樣品表面的橢圓偏振角。這樣可以更準確地測定被觀察薄膜的厚度和折射率。RUDOLPF RUDOLPH FE VIID是一種緊湊型建模橢圓偏振儀,具有極好的精度和精確度。它設計用於精確測量薄至10nm厚的薄膜，適用於光學塗層、半導體器件和MEMS等多層薄膜應用。適用於研究等級、生產或質量控制測量。RUDOLPF FE-VIID的設備由光源、線性偏振器、分束器和探測器四大部分組成。光源通常是單色HeNe激光，產生連續偏振激光。線性偏振器用於確保樣品處有線性偏振光束。分束器是一個二向色鏡，它將入射光束分成兩個垂直分量-s和p極化部分。這兩束光束從樣品表面反射，由檢測器檢測，以測量樣品的光學特性。RUDOLPF RUDOLPH FE-VIID使用微分測量技術來測量表面的光學性質。該系統測量反射光的偏振角變化，同時也可以使用反射-透射技術測量樣品表面的強度。反射角信息用於確定樣品的折射率和厚度。該單元生成的數據用於表征薄膜的物理特性。RUDOLPF FE VIID利用圖形用戶界面（GUI）使用戶能夠快速直觀地設置、控制和分析測量值。GUI在Windows 7/8操作系統上運行,專為新手和經驗豐富的用戶而設計。除了GUI之外,該機器還包括各種測量、分析和集成模塊,便於薄膜樣品的數據采集、解釋、關聯和建模。RUDOLPF FE VII D是研究和工業應用的理想光學分析工具。它體積小巧，重量輕，特別適用於過程監控和質量控制應用。由於具有卓越的準確性和速度,它非常適合進行各種樣品測量,使研究人員和工程師能夠深入了解其樣品。