二手 RUDOLPH FE VII D #9284351 待售

RUDOLPH FE VII D是一種先進的光學橢圓偏振儀，設計用於測量高精度的薄膜和層狀表面的光學特性。這臺儀器是一個高度靈敏的多波長光譜平臺，使用圓形偏振儀測量薄膜和多層堆棧的透射和反射特性。利用圓入射偏振，這種裝置還測量折射率、消光系數、薄膜厚度、表面粗糙度和層結構的光學指數。它配備了一系列功能，包括以下功能：一種可變角度入射偏振器，用於測量不同波長的薄膜和基板參數。通過光譜解析測量來確定光學常數、薄膜和基板參數以及界面粗糙度。能夠測量具有高吸收層的層狀薄膜和界面的復雜樣品。一種高分辨率寬帶光譜儀，用於測定薄膜表面的光學和結構特性。用於對樣品進行目視檢查的內置攝像頭。用於樣品表面照明的可編程LED。一種用於測量寬波長範圍內薄膜厚度的掃描激光系統。用於分析和解釋數據的專業軟件，如強大的膠片擬合和模式識別。利用這些特性，RUDOLPH FE VIID為用戶提供了對薄膜和界面的光學和結構特性的快速、精確和可靠的評估。該儀器可用於分析金屬、氧化物、聚合物、半導體等多種材料。此外,它還提供了低成本、高分辨率和精確的樣品光學特性。FE-VIID具有廣泛的功能和性能,可以滿足廣泛的研究要求,並顯著縮短發現和識別樣品表面光學特性所需的時間。