二手 RUDOLPH FE VII #293647734 待售

RUDOLPH FE VII
製造商
RUDOLPH
模型
FE VII
ID: 293647734
晶圓大小: 8"
優質的: 2002
Thickness measurement system, 8" 2002 vintage.
RUDOLPH FE VII是一種橢圓偏光計,設計用於測量薄膜和表面的光學參數,如折射率和光學厚度。該裝置是非常成功的RUDOLPH FE-VI的升級版,20多年來對大量樣品進行了可靠和準確的測量。RUDOLPH FEVII具有許多獨特的特點:微處理器控制的軟件可確保準確的數據收集。獨特的設計模式可自動補償樣品平面的傾斜度和偏心率。快速測量模式可實現更快的測量並減少所需的測量次數。波長選擇可在300至800納米範圍內自由訪問。高選擇性模式可同時測量線性和圓形極化, 使用可選的數據收集模式可以實現自動化數據收集。獲得專利的自動化多重測量模式是測量多個樣本而無需進行新實驗的寶貴工具, FE-VII獨有的專利超範圍測量模式, 允許測量光學參數超過通常用橢圓偏光計測量的範圍的樣品。延長的溫度和壓力範圍可與其他設備一起使用。RUDOLPH FE-VII中記錄的數據很容易轉移到多種格式進行分析, 包括ASCII、ISO 16487和JIS X 0401的許多功能結合了高級軟件,使得FEVII成為物理、光學力學、光學工程等領域廣泛材料的通用工具。FE VII憑借其極高的精確度、精確的控制系統以及延長的溫度/壓力範圍,可以精確測量甚至復雜結構和表面的樣品,使其成為研發和樣品表征的寶貴工具。
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