二手 RUDOLPH FE VII #9083744 待售

RUDOLPH FE VII是一種先進的高精度和測量可重復性橢圓形偏光計，為測量薄膜和基板厚度提供了強大的工具。這種橢圓偏振儀能夠測量任何材料從1納米到1微米的薄膜厚度，精度為0.2 nm。它被設計用來測量薄膜厚度在廣泛波長範圍內的光吸收和透射。這使得它非常適合分析薄膜的光學特性。RUDOLPH FEVII Ellipsometer是一種多功能模型，使用最先進的技術提供精確的薄膜測量結果。除了提供對薄膜厚度的精確測量外，還可以測量其光學性能。該儀器是一種可靠的工具，用於檢查光學薄膜、光學元件和光學系統的其他元件，用於研發應用。該儀器配有直觀的Windows® XP兼容軟件，使用戶可以輕松捕獲和存儲膠片數據，分析數據計算厚度，計算光吸收。FE-VII橢圓儀能夠測量幾個參數，包括光學膜厚度、光吸收、透射光量、偏振、反射率和散射。經過處理的實驗結果可用於各種應用，如光學器件設計、材料科學、半導體器件研究等。FEVII功耗低，並包含自己的PC電源，使其成為方便的便攜式設備。溫度補償功能使用戶能夠調整步驟分辨率和掃描速度,而不會影響讀數的準確性。這種高度精確的模型還設計有一個可移動的晶片卡盤，便於加載，進一步有利於研發應用。FE VII橢圓儀是一種高度可靠但經濟實惠的精密薄膜測量儀器。精度、重復性和多功能性的結合，也使其成為許多光學分析應用的首選工具。此外,易於使用的軟件為數據存儲、處理和分析提供了一個簡單的解決方案。憑借其先進的功能,此模型為需要精確、高效測量薄膜和光學元件的用戶提供了卓越的價值。