二手 RUDOLPH FE VII #9148236 待售

RUDOLPH FE VII是一種先進的多角度自動化光譜橢圓儀，設計用於光學薄膜研發。具備先進的光學和數據采集能力，以高精度和精確度測量薄膜結構的光學特性。該裝置采用可選擇波長的單色儀，其UV-可見-NIR光譜覆蓋範圍從190納米到1600納米。該設備旨在模擬樣品在不同入射角下的光學特性，準確表征樣品的光學特性。RUDOLPH FEVII的核心是模塊化自動化采樣階段,它允許一次對最多三個采樣進行自動測量。堅固的樣品級具有直線運動和高速掃描，可達到200納米垂直平移範圍和300納米半徑旋轉範圍。線性運動用於將樣品定位在分辨率高達0.001度的最佳入射角範圍內。采樣級還允許雙光偏振進行可變角度采樣級掃描。橢圓偏振儀利用光束掃描元件陣列，便於樣品光學特性的自動雙偏振和可變角度測量。該系統包括一組可以用來精確模擬不同角度的入射光束的光源如鎢氣、氙氣或寬帶光。該單元配有光電探測器陣列，用於測量反射角並評估樣品的強度、折射率和厚度。先進的光學和光電元件加上FE-VII軟件，使得對樣品進行精確的角度和強度掃描，模擬樣品的光學特性成為可能。除了自動化功能外，RUDOLPH FE-VII還包括一系列廣泛的校準和數據分析工具來分析數據。其中包括樣品和基板光學特性庫、溫度控制機、自定義數據分析和報告工具以及測量參數數據庫。用戶友好的界面和廣泛的技術能力使FE VII成為光學薄膜研發的理想解決方案。