二手 RUDOLPH FE VII #9161281 待售

RUDOLPH FE VII是來自RUDOLPH Technologies, Inc.的一種精密精確的橢圓偏光計，用於測量薄膜和表面的電子和光學特性。其七（7）種不同的構型可以測量廣泛的參數，如薄膜的厚度、折射率、消光系數、表面粗糙度、電阻率、帶隙和光學常數等。該儀器包括一個可調節的樣品臂、一個高度靈敏的探測器，以及一個波長範圍在200至800nm的固態激光二極管。RUDOLPH FEVII使用帶有測角儀的光學系統來測量樣品的光學特性。測角儀將光束從樣品旋轉到位於90度的兩個探測器，從而能夠精確準確地確定樣品的光學參數。可以在系統中增加一個額外的偏振附件，用於測量基於偏振的光學參數。該儀器采用各種測量方法進行預編程，非常適合一系列材料表征任務。它提供了一個直觀、用戶友好的界面和一個單獨的數據控制窗口，允許易於使用和平穩操作。該儀器還配備了功能強大但靈活的數據處理和分析軟件，使用戶能夠快速處理數據、發現問題和趨勢並生成報告。FE-VII能夠測量厚度為0.2 nm至1,000 nm和折射率值高達4.0的薄膜。該儀器還可以配置一個駐波附件，以測量一系列高達6,000nm的薄膜厚度，以及廣泛的其他光學參數，如電阻率、帶隙能量、介電常數、光學常數、表面粗糙度以及折射率和消光系數。總體而言,FEVII是一種先進、健壯且用途廣泛的橢圓儀,非常適合一系列材料表征過程。它預編程的功能使其易於用於要求最苛刻的技術應用，而其強大的軟件則讓用戶能夠快速處理和分析數據。這使得它成為研究人員和材料科學家的理想選擇。