二手 RUDOLPH FE VII #9236829 待售

RUDOLPH FE VII
製造商
RUDOLPH
模型
FE VII
ID: 9236829
晶圓大小: 8"
Ellipsometer, 8".
RUDOLPH FE VII是一種用於測量薄膜光學性能的快速、精確的工具。它是一種自動化的多波長橢圓偏光計,用於測量薄膜或多層的復雜光學特性。基於橢圓偏振原理,RUDOLPH FEVII使用偏振光來測量反射出樣品表面後光偏振的變化。通過這種方法可以測量氣層厚度、薄膜厚度、折射率和消光系數等光學特性。FE-VII還允許從190nm到1050nm的多波長測量。該儀器易於使用,可對各種樣本量進行快速、準確和可重復的測量。它在質量控制應用中具有較高的重復率,或者在更精確的測量中具有較低的重復率。FE VII還提供了多種進一步簡化操作的軟件包。RUDOLPH FE-VII由以下主要組件組成:光源、檢測設備、可變入射角光學器件和計算機控制系統。光源是帶有G線濾光片的150W氙氣flasha燈,用於在廣泛的波長範圍內進行穩定和可重復的測量。這個光源可以讓研究人員在很短的時間內,在很寬的波長範圍內測量多個樣本。檢測單元由CCD攝像機探測器和濾波器輪組成。相機記錄分析的數據,而濾波器輪則允許選擇光的波長。可變入射角光學器件的設計目的是減少由於光線反射出其它表面或離軸角度而產生的錯誤讀數的影響。兩個主要組件是電動線性級和光學檢測器。線性級允許調整樣品旋轉角度。光學探測器感應反射光的偏振,調整入射角,使光均勻反射出樣品表面。計算機控制機提供了操作FEVII的接口,還包括各種軟件包,協助用戶進行數據處理、報告和分析。RUDOLPH FE VII是一種先進、通用的薄膜性能測量工具。它為各種樣本量提供了快速、準確和可重復的結果,是薄膜光學性能研究的理想選擇。
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