二手 RUDOLPH FE VII #9306017 待售

RUDOLPH FE VII是由RUDOLPH Technologies Inc.它支持從納米到微米水平的廣泛測量，可用於測量包括金屬、聚合物、復合材料和半導體在內的多種材料。該儀器采用了專利、無幹擾、基於成像的偏振測量技術，使用戶能夠在幾分鐘內獲得高精度和可重復的結果。先進的基於成像的偏振調制技術消除了對傳統光學元件如半波板和補償器板的需求，允許使用更高效、更緊湊的光學配置。RUDOLPH FEVII支持兩種儀器，一種是Observer，另一種是Profiler。Observer模型用於分析薄膜，能夠產生高達4納米厚度的精確結果。Profiler模型用於皮膚分析,可以測量油漆、塗層和其他材料的表面特征,使精度更精確。該系統使用基於Windows的界面在高度自動化的設置下運行,無需手動幹預。它包含數據采集和分析軟件，以及用於控制流程的用戶界面。該系統還包括入射光的圖形縮略圖視圖，允許用戶輕松選擇入射光波長的正確波段，從而產生最準確的結果。FE-VII是研究、開發和生產薄膜和表面研究的寶貴工具。它在幾分鐘內提供準確的結果,並且易於使用Windows界面。該設備不需要光學元件，也不需要繁瑣的體力勞動，提供高精度和可重復的結果。