二手 RUDOLPH FE VII #9397723 待售

RUDOLPH FE VII是為精確測量薄膜光學特性而設計的先進橢圓偏振儀。橢圓偏振儀，如RUDOLPH FEVII，通過同時測量從樣品表面反射出來的光的相位和振幅來工作，通常是薄膜或塗層。通過測量反射光的強度和偏振，FE-VII可以確定薄膜和塗層的光學性質，包括厚度、折射率和消光系數。FEVII具有高分辨率成像橢圓儀和數字掃描控制器,使其能夠精確測量厚度低至50 nm的薄膜。橢圓偏振儀還可以配置用於定制膠片應用，並且可以調整為使用所有流行的偏振狀態，每個狀態最多有四個檢測器。它還能夠同時選擇多達十個波長，使其成為依賴於波長的測量的有用工具。除了高精度外，RUDOLPH FE-VII能夠以1000測量/秒的掃描速度快速掃描速度。這有助於縮短測試時間,同時仍能提供準確的結果。系統還包含一個噪聲水平為0.05%的8位、356 x 262像素冷卻CCD陣列檢測器，以及角度分辨率低至0.2°的板條鏡附件。內置的SUNYSide®軟件增強了FE VII的分析能力,該軟件為復雜的膠片提供萬無一失的操作和自動化的數據處理。它還允許廣泛的數據分析，如曲線擬合、波長濾波和TFCalc實時計算。總體而言，RUDOLPH FE VII是一種極精確可靠的橢圓儀，能夠測量各種薄膜光學特性，使其成為需要精確度和速度的應用的理想選擇。