二手 RUDOLPH NIR 3 #9199611 待售
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RUDOLPH NIR 3是一種橢圓偏振儀，設計用來測量多層膜的厚度和光學常數。與以前的版本（RUDOLPH NIR 2）相比，它改進了功能，包括一個新的近紅外（NIR）探測器，改進了測量範圍，提高了精度。RUDOLPH NIR-3使用脈沖激光束，由具有預定波長的光波組成，定向到樣品上。然後，光與樣品表面相互作用，其中一些反射回探測器進行分析。儀器測量入射光偏振的變化和反射光束的角度，這是由於多層膜的厚度和光學常數不同而發生的。光學參數--表征材料的光學特性--可以通過測量的偏振和角度來確定。這使得薄膜的厚度和光學常數被確定到前所未有的精度水平。該儀器測量範圍很廣，可測量高達14層介電或金屬樣品的厚度和光學常數，精度很高，不確定性很低。其厚度可達2000 Ångström，可用於分析厚度從1nm到300 µm不等的薄膜。NIR 3的用戶界面軟件設計方便，包括自動批量測量、可定制報告模板和圖形數據顯示等高級功能。簡而言之，NIR-3是一種先進的橢圓偏振儀，它以非常高的精度對樣品的厚度和光學常數進行精確的測量。測量範圍廣，使用方便。這使得它成為在各種研究和工業應用中表征膠片的絕佳選擇。
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