二手 RUDOLPH S3000A #9311178 待售

RUDOLPH S3000A Ellipsometer是一種非侵入性的光電儀器，用於測量薄膜的厚度、折射率、光學常數和其他材料特性。其主要功能是對樣品的表層提供高度精確的描述。橢圓偏振儀的工作原理是測量沿偏振光束反射出樣品表面層時光強度的變化。以不同角度測量反射強度,然後使用專用軟件套件處理反射光數據,以確定表面層厚度、折射率、光學常數和其他材料屬性。RUDOLPH S 3000 A利用532nm波長,並與不間斷360°XYZ測量級集成。這使得最多24個繼電器的映射能力能夠確定許多不同樣品類型的厚度、均勻性和折射率。高分辨率成像相機便於對準和表面氧化物層成像。簡單的用戶界面允許例行過程控制和質量監控。S3000A的折射率和層厚度精度分別為3nm和3mrad。這種極高的精確度使得S 3000 A成為許多應用的理想儀器，包括薄膜沈積驗證、光學濾波器表征、半導體膜開發和許多其他不同的研究領域。除了標準的光骨功能外，RUDOLPH S3000A還具有優化和微調儀器對準和操作的其他選項。它還包括一套定制的軟件解決方案和應用程序,以支持所有操作和要求。綜上所述，RUDOLPH S 3000 A橢圓儀代表了一種用於測量樣品第二層的高度精確和通用的儀器。其集成的用戶界面和量身定制的軟件套件使得它成為任何研究環境的絕佳選擇，在這些環境中，薄膜材料測量的準確性和可重復性是最重要的。