二手 RUDOLPH S3000S #9304275 待售

RUDOLPH S3000S Ellipsometer是一種光學儀器，用於測量薄膜材料和表面的光學特性。它利用近紅外激光束，它指向樣品表面，在那裏它與材料以精確的方式相互作用。以兩個不同的角度測量反射光束強度，並對所得數據進行分析，以確定光學性質。這類分析可用於評估材料的厚度和折射率。RUDOLPH S 3000 S模型設計用於研究用途，例如確定半導體器件和電子元件的性質。它具有高靈敏度幹涉儀和高分辨率攝像機，以檢測光強度的微妙變化。它還提供了一個自動化的樣板舞臺和一個大的，易於閱讀的觸摸屏顯示。該系統能夠控制與實驗相關的各種參數，如樣品溫度、極化和速度。S3000S使用高級軟件對數據進行參數化分析，使用四個龐加萊參數--吸收、延遲、橢圓度和方位角。這樣可以精確測量樣品材料和表面的厚度和折射率,薄膜厚度的精度水平高達0.5nm,折射率為0.001。此外，該系統還可用於檢測應力誘導的雙折射和層狀結晶特性。S 3000 S與廣泛的樣品材料和表面兼容，包括金屬、聚合物、電介質、半導體、薄膜和塗層。這使其成為電子和光學行業研發的理想儀器。它設計用於實驗室以及其他專業環境，包括大學、研究中心和高通量的標線生產設施。總體而言，RUDOLPH S3000S Ellipsometer是一種用於薄膜材料和表面分析的強大儀器。它提供了無與倫比的準確性和可靠性，並且可以自主操作，以最大的生產力和便利。憑借其先進的軟件和直觀的控制面板，RUDOLPH S 3000 S是電子和光學領域研究和質量保證的理想工具。