二手 RUDOLPH S3000S #9389600 待售

RUDOLPH S3000S工業橢圓儀是一種精確測量半導體材料膜性能的儀器。RUDOLPH S 3000 S根據半導體行業要求苛刻的應用程序構建,具有高度集成的軟件和硬件選項,以適應特定的客戶需求。憑借其獨一無二的軟件套件Agilis Pro 3和Agilis Core 7, S3000S提供了一系列可用於廣泛研發應用的數據收集和分析模塊。S 3000 S在廣泛的材料上提供精確、準確和可重復的測量。其專利雙波束技術允許橢圓偏光儀測量同一樣品或單個樣品表面的多層，並提供高信噪比，以更好的分析。橢圓偏光計由於其直觀的圖形用戶界面而易於使用。它允許用戶快速設置樣本參數、校準設置和測量範圍。它還具有多種軟件應用，如薄膜堆棧結構的實時顯示、橢圓偏差曲線的繪圖、逐層分析、曲線比較等。RUDOLPH S3000S橢圓偏光計提供了室溫操作選項,以及在-10°C到+90°C的大範圍溫度下測量的能力,從而實現了更快的薄膜表征。在RUDOLPH S 3000S上可以選擇薄膜表征參數，包括極化參數，如伽馬和三角洲，光學常數（折射率和消光系數），以及層厚度和多組分濃度。S3000S橢圓偏光計非常有效，循環時間可達7秒。S 3000 S的高速實現了更快的測試和定制的薄膜堆棧建模。RUDOLPH S3000S安裝了半導體級光學系統，設計用於多層薄膜和多點分析。總體而言，RUDOLPH S 3000 S工業橢圓儀是半導體行業研發實驗室的理想工具，提供精確度、速度、價值的完美融合。它提供了廣泛的應用，而且高度集成的軟件一定會給任何用戶一個可靠和可重復的測量。