二手 RUDOLPH S3000S #9401466 待售

RUDOLPH S3000S
製造商
RUDOLPH
模型
S3000S
ID: 9401466
晶圓大小: 12"
Film thickness measurement system, 12".
RUDOLPH S3000S Ellipsometer是一種高精度、高分辨率的光學橢圓someter,用於臨界薄膜表征測量。這種先進的分析工具測量當光束從樣品側穿過薄膜時薄膜的光學特性的變化。橢圓偏振儀測量偏振變化的角度,然後用來生成有關薄膜厚度、折射率和光學各向異性的信息。RUDOLPH S 3000 S Ellipsometer設計有可旋轉的采樣級和四通道波長選擇,結合起來提供了一個強大的工具來測量要求很高的采樣。可旋轉采樣級允許進行不同角度的測量。可以從UV、VIS、NIR(近紅外)和MIR(中紅外)範圍中選擇波長,然後在差分分析儀中同時讀取S3000S波長。雙視口還允許同時測量透射和反射,或透射率和基於偏振的測量。S 3000 S與許多不同的控制器和隔離系統高度兼容,允許其在多種環境中使用。它的電動光學系統允許在水平平面和垂直平面上容易對準,以便優化樣品檢查。該儀器還可維修和方便用戶,便於維護和操作。RUDOLPH S3000S Ellipsometer使得處理最薄的薄膜和最具挑戰性的基板成為可能,提供比其他橢圓someter更大的表征能力。它的快速數據采集使研究人員能夠分析速度從5分鐘到幾小時不等的復雜樣本,這取決於正在評估的參數數量。RUDOLPH S 3000 S橢圓儀是研究、工業和學術應用不可或缺的工具,為復雜的光學基板和樣品提供高度準確可靠的結果。
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