二手 RUDOLPH WaferView 220 #9130026 待售
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RUDOLPH WaferView 220橢圓偏振儀是一種高度精確的儀器，用於確定薄膜和其他光學活性材料的厚度、組成和光學特性。它旨在以始終如一的高分辨率測量小於1%的光學常數變化。WaferView 220具有模塊化設計,可輕松集成到其他實驗室設備中,以及內置軟件包,可簡化分析並提供詳細可靠的數據。RUDOLPH WaferView 220使用專利的WaferView圖像采集設備（VIAS）在亞微觀水平上捕獲樣品表面的圖像。然後對這些高度詳細的圖像進行數字分析,以提供有關樣品的大小、形狀、折射率、層厚度、組成和結構的信息。這個過程可以進行極其精確的測量，厚度下降到一個質子層。WaferView 220設有電腦控制的舞臺，可以讓使用者在分析時旋轉並將樣品定位到任何所需的角度。它還具有先進的垂直光譜成像系統（VSI），該系統捕獲從紫外線到近紅外的各種波長範圍內對樣品的精確測量。此單元的設計目的是提供精確和一致的數據,即使在測量非常薄的薄膜時也是如此。RUDOLPH WaferView 220可用於一系列實驗和應用，包括測量薄膜質量和厚度；確定介電常數和光學常數；表征半導體表面；並測量塗層、薄膜和層狀介質的光學性能。它也適用於半導體、光學、薄膜研究，或任何其他有能力測量光學性質微小變化的應用。WaferView 220是一款直觀而強大的機器，提供了一系列功能和能力，讓研究人員和科學家能夠快速準確地測量薄膜和其他光學活性材料的光學特性。它提供精確、可靠的數據分析,是任何實驗室、研究中心或生產設施的重要組成部分。
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