二手 SEMILAB IR 3100s #9298698 待售

SEMILAB IR 3100 s是SEMILAB的一種最先進的橢圓偏振儀,能夠快速準確地測量薄膜樣品。橢圓偏振法是一種光散射技術，用於確定從納米到數百納米的透明均勻薄膜的厚度和折射率。IR 3100 s Ellipsometer使用專利幹涉反射技術研究薄膜性能。該儀器以光學幹涉原理為基礎，利用綠色激光源的雙光束以接近所研究材料的布魯斯特角的記錄角度工作。利用偏振敏感檢測器對兩束光束產生的幹涉圖樣進行檢測，然後對其進行分析，得出薄膜厚度和光學性質的信息。該系統配備了三種照明和三種檢測模式，允許用戶分析範圍廣泛的樣品，從沒有可見對比度的薄膜到分層半導體材料等復雜材料的單層。方便用戶的軟件允許自動分析，便於測量一個或多個樣本。此外,實時顯示每個樣品的橢圓偏差曲線可確保對每個測量進行實時分析。SEMILAB IR 3100 s橢圓偏振儀可重復性為0.8%，精度為0.7%。它是質量評估和故障分析應用的寶貴工具，允許無損測量透明薄膜的光學特性。它經常用於多種行業，包括半導體、光學、光學塗層、太陽能和平板顯示器。IR 3100 S Ellipsometer配備了包括自動背景減法、改進的USP功能、內置校準功能以及高速成像CCD相機等多種功能。該軟件提供了一系列用於分析各種樣本屬性的功能，並允許用戶將真實樣本與模擬結果進行比較。由於儀器的靈活性和模塊化設計,它易於定制以滿足任何研究或工業應用需求。