二手 SEMILAB PS 2000 #9244402 待售

製造商
SEMILAB
模型
PS 2000
ID: 9244402
優質的: 2015
Ellipsometer Process: PFA 2015 vintage.
SEMILAB PS 2000 Ellipsometer是一款功能強大的多功能橢圓偏振設備,專為先進的精密薄膜透明塗層而設計。該系統可同時測量入射光束的所有三個偏振光分量的偏振性,從而能夠精確地表征樣品角度,並根據其組成材料的光學特性對樣品進行表征。該單元可用於多種應用,包括薄膜橢圓偏振、光學常數的測量、金剛石狀和納米結晶碳薄膜的表征、表面形態的測量以及樣品性質的研究(如折射率和消光系數)。PS 2000的硬件由一個緊湊的、易於使用的單核橢圓儀組成,專門設計用於同時探測和表征可見光和紅外光。該機由一個可旋轉偏振器、樣品和檢測器、一個單色器、一個偏振分束器和兩個測量臂長組成。偏振器由通過微控制器單元控制的步進電機驅動。樣品和探測器通過冷卻光纖連接到探測器,使用戶能夠從可見區域和紅外區域同時獲取光譜數據。采用由兩臺大功率激光器組成的高效固定式偏振光束裝置,實現了高測量精度。單色儀由準直透鏡、分散器和掃描級組成,由步進電機驅動,並通過微控制器單元進行控制。與SEMILAB PS 2000相關聯的軟件包括功能齊全的用戶界面PCL Controller,這是一個直觀且功能強大的圖形用戶界面。它還包括一個高精度的測量程序,它支持反射率或入射角的測量,新的橢圓偏振領域。PCL控制器使用預定義的ASR和AMR設置自動控制樣本和測量,從而使用戶能夠輕松創建和保存可重復實驗的場景。除了標準特性外,PS 2000還包括一個可選的工具校準元件,提供了一種直觀的方法來校準用於測量模型的光學資產。此方法允許用戶快速設置設備以進行精確和可重復的特征描述。其他系統組件包括用於測量光學常數的低強度源、用於快速數據采集的液氮冷卻探測器以及手動偏振器校準。SEMILAB PS 2000橢圓偏振儀是一種強大而可靠的工具,用於表征當今研發實驗室中發現的許多先進的薄膜透明塗層。其創新的設計使用戶能夠以無與倫比的精度快速準確地表征材料特性和光學常數。由於能夠同時測量可見光和紅外光的偏振,該單元能夠提供材料的詳細和全面的表征。
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