二手 SENTECH 400ADV #9036894 待售

SENTECH 400ADV是一種先進的光譜橢圓儀，旨在以非凡的細節和精度測量表面的光學特性。四波長系統配有一對雙波長探測器，可同時測量紫外線、VIS和NIR光譜上的p極化和s極化。該儀器利用旋轉分析儀測量光反射出樣品表面時的偏振變化。該結果用於計算樣品材料的折射率和消光系數，得到有關表面組成、分子結構和層厚度的有用信息。該儀器還包括計算機控制的超高精度電動機級，允許對大樣品區域進行快速、精確的檢查。無論尺寸、形狀或材料如何,它都能以高達每秒20分的速度以高分辨率測量樣品表面的3 cm2。這意味著即使是最復雜的曲面也可以及時準確地映射。它還具有直觀、用戶友好的軟件,可幫助用戶設置實驗、存儲數據、分析結果和生成報告。此軟件與用戶的計算機配合使用,可直接從光譜橢圓儀收集所有必要的參數,從而確保精確的測量不會出現人為錯誤。除了極高的精度和超凡的速度外,400ADV還具有很高的穩定性和魯棒性.它可以承受惡劣的環境條件,並且可以在不影響其性能的情況下將溫度波動保持在3°C ±。它的模塊化結構使用戶能夠在必要時輕松使用/更換組件。總體而言，SENTECH 400ADV是尋求精確可靠測量樣品表面特性的人的理想選擇。這種橢圓偏光計具有多種不同的特點，能夠在從半導體研究到生物醫學分析等多種應用中快速準確地獲得材料光學特性的數據。