二手 SENTECH SE 400 #190266 待售

SENTECH SE 400是由SENTECH Instruments GmbH開發的橢圓偏振儀，專為需要精確橢圓偏振信息且操作可靠的用戶而設計。SENTECH SE400利用現代技術測量多種材料的折射率、吸收和薄膜厚度，包括薄膜塗層、半導體、聚合物、晶片和液晶。SE 400橢圓儀是一種模塊化系統，可以同時測量多個樣本，適應性強。它配備了雙波束偏振掃描儀，能夠實現高信噪比，並允許測量在大的入射角。除了顯示和存儲測量值外,它還配備了可提供用戶友好界面以優化參數的軟件。SE400的測量波長範圍為375-1050 nm,提供了廣泛的測量條件。布魯斯特角和法線入射構型均可用於獲得可靠準確的參數。可調電動樣品支架提供測量的均勻性和可重復性。SENTECH SE 400提供具有Z掃描功能的精確測量。此特征可測量精確的薄膜厚度,精度在0.1nm以內。OLED彩色觸摸屏可確保與設備的直觀可靠界面以及尺寸的顯示。SENTECH SE400還有一個內置數據庫,用於存儲測量值以供將來參考。SE 400是研發和工業應用的絕佳選擇。即使在低反射率和/或低輪廓層的表面上,它也能提供準確可靠的測量。直觀的用戶界面和簡單的操作使其非常適合在生產線或實驗室中進行快速測量。SE400也是RoHS Compliant和ISO 9001 Certified,為用戶提供最高的質量控制標準。