二手 SENTECH SE 400 #9027536 待售

SENTECH SE 400橢圓儀是一種精確可靠的表面表征光學器件.它是一個完整的橢圓偏振和反射測量系統，用於確定不透明基板上薄膜和塗層的光學特性。SENTECH SE400可以測量高達1000埃的表面層厚度，並且可以用於測量薄膜和完整的多層堆棧。SE 400利用獨特的雙光束前反射偏振技術來分析傳統單光束技術無法實現的復雜光學響應。這種先進的技術可以進行更可靠的測量，特別是在處理高折射率薄膜和具有挑戰性的塗層輪廓時。SE400的用戶友好圖形界面簡化了數據采集過程，並允許對結果進行快速分析。SENTECH SE 400由橢圓偏振儀頭、光源、樣品持有者、信號處理器和計算機監視器組成。該光源采用150瓦燈和具有可調功率輸出的HeNe（氦硼）激光器，靈敏度非常高。樣品支架是機動化的，靈活的，可以方便地改變入射角。信號處理器是一種先進的數字傅立葉分析系統，對信號進行快速準確的評估。SENTECH SE400適用於廣泛的應用，包括薄膜表征和開發、光學薄膜監控、材料開發和工藝控制。該儀器也非常適合表征表面粗糙度、金屬化層和廣泛的光學塗層。此外,SE 400非常適合用於自動化生產系統,從而實現快速可靠的質量控制和優化。綜上所述，SE400橢圓儀是一種用於精確測量和分析薄膜和基板的強大而可靠的解決方案。SENTECH SE 400憑借其先進的雙光束技術、靈活的樣品支架以及與自動化生產系統的兼容性,為測量光學性能提供了經濟高效的綜合解決方案。