二手 SENTECH SE 400 #9208990 待售

SENTECH SE 400橢圓偏振儀是一種光學薄膜表征工具，用於測量薄膜和表面的光學特性。該儀器設計用於測量偏振單色光偏振偏移角和橢圓度，從樣品表面反射。這種位移和橢圓度取決於樣品的光學特性，如厚度、折射率和薄膜的相對介電特性。SENTECH SE400 Ellipsometer是一種占地面積較小的桌面設備。它結合了光學、力學、電子和軟件，對薄膜，如抗反射和透明介電塗層，進行了廣泛而準確的分析。該儀器采用高速旋轉補償器和雙角橢圓偏振頭，為表征最復雜的樣品提供了必要的靈活性。SE 400橢圓儀使用先進的光學和樣品定位系統提供非常精確的光學數據,可自動、準確、可重復和可靠的測量結果。該儀器可以測量樣品的絕對和相對特性，並可用於廣泛的應用，如確定膜厚度、折射率、消光系數、光學常數和各向異性。該儀器易於設置、操作和維護。它在彩色液晶上有一個簡單的圖形用戶界面，顯示操作員可選擇的參數和輸出，如薄膜厚度、折射率和光學常數。輸出可以很容易地顯示和打印。SE400橢圓儀是一種可靠、耐用和精確的儀器，具有全面的光學參數範圍，可以精確、快速地測量。這使得它成為薄膜表征應用的理想選擇。