二手 SENTECH SE 400ADV #9202977 待售

SENTECH SE 400ADV是一種先進的橢圓偏光計，旨在測量薄膜材料的性能。該設備專為光學塗層、半導體材料和納米級層等多種應用而設計。它可以精確測量大範圍的光學厚度、折射率、薄膜應力和層材料。SENTECH SE400ADV提供高精度、重復性和測量速度,光學厚度範圍從0.1 nm以下擴展到幾微米。該系統具有一個無點擊旋轉，允許連續的角度測量和角度設置降低到0.3弧秒增量。偏振顯微鏡針對高分辨率圖像進行了優化，可快速表征薄膜。SE 400ADV單元帶有強大的Windows軟件包。GUI允許輕松處理參數和數據分析。用戶友好的界面可實現快速高效的設置和高級數據分析。它還允許存檔和恢復數據,這些數據可用於比較不同時間段的膠片參數。SE400ADV配備了一個自動對齊機器，確保可靠和準確的測量。自動化工具消除了手動調整的需要,並確保了多種測量之間的一致性性能。此外，資產可以測量表面不規則的樣品，如結構化薄膜。SENTECH SE 400ADV具有內置象限探測器,可同時分析多個樣本。數據的實時收集可以實現高吞吐量，結果的圖形顯示可以快速方便地比較樣本參數分布。此外，儀器還可配備多個光束平臺，包括左右圓偏振器、紅外光纖，以及可見光和近紅外範圍內的激光。SENTECH SE400ADV提供了一個先進、高精度、高性能的薄膜表征平臺。該儀器具有用戶友好的界面和自動對齊功能，是研究和質量保證應用的可靠工具。利用該模型，研究人員可以快速準確地深入了解薄膜特性，確保測量的準確性和可重復性。