二手 SENTECH SE 400ADV #9286513 待售

SENTECH SE 400ADV Ellipsometer是一種用途廣泛、精密的光學測量設備,用於分析從可見區域到近紅外（NIR）的薄膜表面。該系統設計用於檢測極薄塗層和透明材料,並應用於半導體器件開發和其他光電、光學和光學塗層測量。SENTECH SE400ADV測量反射光的偏振狀態，以準確確定表面膜的光學特性。該單元提供自動和手動對準具有高精度和可重復性。它還具有較大的數據采集內存和高速數據采集速率,允許擴展測量和高吞吐量數據采集。SE 400ADV Ellipsometer能夠提供有關基板上薄膜層的定量和定性信息。此外,該機器還提供了廣泛的分析功能,包括組成、沈積速率、地形、一致性和厚度。使用亥姆霍茲線圈可以減少背景噪聲，提供更高精度的結果。SE400ADV有一個全自動的軟件界面，允許方便和快速的設置和數據收集。用戶可以定義測量參數和數據收集參數。直觀的圖形界面允許快速的實驗設計和數據處理。此外,軟件會自動對收集到的數據進行計算,從而實現快速、輕松的分析。SENTECH SE 400ADV還提供了高級分析工具,使用戶可以超越定量結果。該資產允許對測量的薄膜層進行詳細的可視化，包括軌道圖和能量重整圖。此外，分析模型還可以產生先進的表面特性，包括組成、界面粗糙度、光學常數等等。SENTECH SE400ADV Ellipsometer是一種易於使用、用途廣泛、精確的光學測量設備,旨在分析薄膜表面。由於其高速的數據采集速率和廣泛的分析能力，它非常適合半導體器件的開發和其他光電、光學和光學塗層的測量。借助其自動化的軟件界面和高級分析系統,SE 400ADV使用戶能夠快速準確地收集成功分析所需的所有材料屬性。